被測器件

被測器件（英語：device under test，DUT）或被測裝置，又稱在測單元或被測部件（unit under test，UUT），常用於表示正處於測試階段的工業產品。

半導體測試

在半導體測試中，DUT表示晶圓或最終封裝部件上的特定管芯小片。利用連接系統將封裝部件連接到手動或自動測試設備（ATE），ATE會為其施加電源，提供模擬信號，然後測量和估計器件得到的輸出，以這種方式測定特定被測器件的好壞。

對於晶圓來說，使用者需要將ATE用一組顯微針連接到一個個獨立的DUT（晶圓小片）。若晶圓已被切割成小片並封裝，可以用ZIF插座（零插拔力插座）將ATE連接到DUT（管殼）上。

常規電子測試

更多的情況下，DUT用於表示任何被測電子裝置。例如，裝配線下線的手機中的每一芯片都會被測試，而手機整機會以同樣的方式進行最終的測試，這裡的每一部手機都可以被稱作DUT。

DUT常以測試針組成的針床測試台連接到ATE。

參見

• 被測系統（SUT）
• 電路測試（ICT）