跳转到内容

扫描链

维基百科，自由的百科全书

扫描链（英語：Scan chain）是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器，使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。

参考文献

[编辑]
  • Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976. 

相关条目

[编辑]
检索自“https://wikicn.playgoteam.workers.dev/w/index.php?title=扫描链&oldid=30991712”